Регистрация - дефект
Cтраница 3
 |
Схема просвечивания сварного.| Расшифровка рентгенограмм. [31] |
Излучение при прохождении через сварное соединение с дефектами ( газовая пора, шлаковое включение, трещины и др.) ослабляется меньше, чем в сплошном металле. При регистрации дефекта радиографической пленкой излучение оказывает на вещество пленки химическое воздействие, которое выражается в почернении пленки в местах дефектов. Эти места имеют наибольшую интенсивность излучения. [32]
 |
Намагничивающие устройства, выполненные на основе постоянных магнитов. [33] |
Магнитные дефектоскопы предназначены для контроля качества сварных соединений изделий из ферромагнитных материалов. По способу регистрации дефектов их можно разделить на магнитопорошковые, магнитографические, фсррозондовые, индукционные и др. Намагничивание изделий при контроле производится в результате приложения внешнего магнитного поля или пропускания через деталь электрического тока. К основным узлам дефектоскопов для магнитопорошкового контроля относятся: источники тока; устройства подвода тока, полюсного намагничивания ( соленоиды, электромагниты); средства нанесения на контролируемую деталь суспензии; осветительные устройства; измерители тока. [34]
Внутренние формы должны быть сравнительно простыми, так как большинство отказов обнаруживается на уровне элементов. Эти формы используются для регистрации дефектов, обнаруживаемых во время приемной инспекции, устранения производственных неполадок или сдаточных испытаний. Типичная форма, применяемая фирмой Martin, показана на фиг. В ней предусмотрено место для важной информации о надежности: название и номер элемента, схемные обозначения, наработанное время, описание дефекта или отказа. Форма заполняется в нескольких экземплярах, которые направляются в центр сбора данных и в службы контроля качества и надежности. Один экземпляр сопровождает отказавшее изделие при направлении его в лабораторию анализа отказов. [35]
При магнитопорошковом контроле в качестве чувствительного элемента используются частицы магнитного порошка. Для осуществления сухого способа регистрации дефектов используются распылители магнитного порошка в совокупности с видеоконтрольными устройствами. На рис. 5 представлена самоходная установка МДС-4, разработанная для контроля стыковых сварных швов цилиндрических резервуаров. В состав установки входит электромагнит с повышенной локальностью намагничивания [5, 6] и, при необходимости, телевизионная камера для передачи изображения контролируемой поверхности на экран ВКУ. [36]
 |
Использование двух интегрирующих ячеек для уменьшения влияния сопутствующего сигнала. [37] |
Можно видеть, что при регистрации дефекта определенного размера в условиях нежесткой коллимации выявляемость резко падает с ростом просвечиваемой толщины. [38]
Радиографический контроль основан на использовании свойств радиоактивных излучений. Этот метод основан на способности рентгеновских и гамма-лучей проходить через материала как через полупрозрачные тела с регистрацией дефектов на магнитографическую пленку. Под действием излучения на пленке образуется скрытое изображение, которое становится видимым после фотообработки в проявителе и закрепителя. Для сокращения времени просвечивания, и обеспечения лучшей выявляемости дефектов используют флуоресцентные и металлические экраны. [39]
Способы контроля непроницаемости наряду с указанными достаточно многочисленны. Известно, например, испытание смесью сжатого воздуха и аммиака ( 1 % от объема) с регистрацией дефектов на бумажную ленту, пропитанную 5 % - ным водным раствором азотнокислой ртути и др. Этот метод применяют при испытании трубных конструкций. [40]
Этот метод основан на способности рентгеновских и гамма-лучей проходить через сварные соединения как через полупрозрачные тела с регистрацией дефектов на радиографическую пленку. Под действием излучения на пленке образуется скрытое изображение, которое становится видимым после фотообработки в проявителе и закрепителе. Для сокращения времени просвечивания и лучшей выявляемое дефектов используют флуоресцентные и металлические экраны. [41]
Рентгено - и гаммографирование - наиболее распространенный метод контроля сварных соединений. Этот метод основан на способности рентгеновских и гамма-лучей проходить через сварные соединения как через полупрозрачные тела с регистрацией дефектов на радиографическую пленку. Под действием излучения на пленке образуется скрытое изображение, которое становится видимым после фотообработки в проявителе и закрепителе. Для сокращения времени просвечивания и обеспечения лучшей выявляемое дефектов используют флуоресцентные и металлические экраны. [42]
Рентгено - и гаммаграфирование - наиболее распространенный метод контроля сварных соединений. Этот метод основан на способности рентгеновских и гамма-лучей проходить через сварные соединения, как через полупрозрачные тела, с регистрацией дефектов на радиографическую пленку. Под действием излучения на пленке образуется скрытое изображение, которое становится видимым после фотообработки в проявителе и закрепителе. Для сокращения времени просвечивания и обеспечения лучшей выявляемое дефектов используют флюоресцентные и металлические экраны. Рентгеновские лучи являются разновидностью электромагнитных колебаний и имеют длины вслн 6 10 - 13 - 10 - 9 м с частотой излучения 0 5 - 1021 - 3 - Ю17 Гц. Источником получения рентгеновских лучей является рентгеновская трубка, которая имеет баллон с двумя электродами - анэдом и катодом. Рентгеновское излучение генерируется при тоэможении электронов на аноде, испускаемых катодом. [43]
Для контроля шва обычно достаточно одного снимка при направлении лучей Тг. В случаях, особо оговоренных техническими условиями, производятся просвечивания по скосам кромок ( направление лучей Г2 и Т3) для более надежной регистрации дефектов по границе сплавления основного и наплавленного металла. [44]
Плата подключается к источнику питания и работает в предусмотренном для нее режиме. Регистрация дефектов осуществляется по изменению теплового поля, образующегося при прохождении электрического тока по соединениям. Еще более высокие результаты получают при сканировании поверхности по отдельным линиям. [45]
Страницы: 1 2 3 4