Рентгеновский рефлекс

Cтраница 1

Рентгеновские рефлексы от монокристаллов часто собирают при помощи камеры Вейссенберга, изменяя угол р, между нормалью к оси вращения и рентгеновским пучком. [1]

Спираль 3 / 1 изотактического полипропилена. [2]

Наиболее сильные широкоугловые рентгеновские рефлексы ( 110), ( 040), ( 130) и ( 111) отвечают параметрам решетки 6 26 5 19 4 77 и 4 9 А соответственно. [3]

Анализ профиля дифракционных рентгеновских рефлексов показал, что если избежать коллапса ламелей, то размеры блоков мозаики в ПЭ получаются в 2 раза больше, чем в условиях, когда коллапс ламелей исключить нельзя, а в монокристаллах ПОМ почти в 20 раз. [4]

Описанная выше структура рентгеновского рефлекса наиболее просто может быть понята лишь как следствие появления в изогнутом кристалле отдельных дезориентированных один относительно другого блоков, разделенных участками, в которых не находится достаточного числа плоскостей, способных отражать рентгеновские лучи в определенном направлении. [5]

Модели строения ориентированного полимера ( а и графитирующе-гося углерода ( б [ 14 - 1, 14 - 81. [6]

Методом измерения полуширины рентгеновских рефлексов было установлено, что размеры полимерных пачек имеют порядок нескольких десятков нанометров. [7]

Особенно четко сложная структура рентгеновских рефлексов вне фокуса спектрографа проявляется в случае изгиба очень тонких кристаллов, толщина которых не превосходит 60 мк ( рис. 17, стр. В отличие от рентгенограмм, получающихся после изгиба более толстых кристаллов, эти рефлексограммы характеризуются большей степенью совершенства каждой из расположенных почти параллельно друг другу линий, обильно заполняющих поле рефлекса. Эта правильность во взаимном расположении отдельных линий сложного рефлекса не нарушается к на расстояниях, непосредственно прилегающих к фокусному. В отличие от рентгенограмм от более толстых кристаллов, получающиеся в этом случае рефлексограммы, как правило, сопровождаются значительным фоном, интенсивность которого подчас оказывается сравнимой с интенсивностью линий. [8]

Если построить зависимость полуширины рентгеновских рефлексов ( расстояние между точками, где интенсивность меньше максимальной ь два раза) от растяжения, то оказывается, что полуширина почти не изменяется. [9]

Ход лучей, отраженных от двух блоков, повернутых друг относительно друга в вертикальной плоскости. [ К выводу соотношения ( 31 ]. [10]

Взаимное смещение штрихов в пределах рентгеновского рефлекса, а также непостоянство их вертикальных размеров на рентгенограммах, снятых на разных расстояниях от кристалла, делают естественным предположение, что блоки, образующиеся в кристалле при его изгибе в спектрографе, поворачиваются и вокруг перпендикулярного направления. Это значит, что положение блока в пространстве следует характеризовать также углом поворота в вертикальной плоскости. Величину этого угла можно количественно оценить также при помощи реф-лексограмм, полученных вне фокуса рентгеновского спектрографа. [11]

Однако в силу ограниченности числа экспериментальных рентгеновских рефлексов вычисление этого ряда обычным суммированием без ошибки эффекта обрыва невозможно. [12]

Установлено, что два резких дублета, окаймляющие широкий рентгеновский рефлекс, происходят от двух частей кристалла, расположенных близко к держателю. В дальнейшем при проведении экспериментов эти части кристалла тщательно диафрагмировали. [13]

При пользовании только шлифованными кристаллами наблюдение тонкой структуры рентгеновских рефлексов затруднительно. Восстановление четкости рентгеновских реф лексов наступает после тщательной полировки шлифованных кристаллов. Это наблюдается также и на кристаллах каменной соли и находится в полном согласии с многочисленными электронографическими наблюдениями и результатами рентгенографических исследований, в которых наблюдались сходные явления на кристаллах кварца и топаза. Авторы этих исследований объясняли наблюдавшиеся ими явления частичной рекристаллизацией поверхностных слоев полированного слоя вещества на поверхности материнского кристалла. [14]

Поэтому, представляя графически зависимость оптической плотности почернения рентгеновских рефлексов на различных спектрограммах от удвоенного логарифма расстояния до источника, можно построить характеристическую кривую эмульсии. Причиной, мешающей широкому применению на практике этого простого по идее метода, является его неприменимость для целей сенситометрии при работе с фокусирующими спектрографами. [15]

Страницы: 1 2 3 4