Спектр - анализируемая проба
Cтраница 3
В нашем примере можно вычеркнуть слабые линии церия, марганца, железа, ниобия, циркония и ванадия, так как спектр анализируемой пробы простой. [31]
Спектры индивидуальных веществ, которые служат для облегчения расшифровки анализируемого спектра, снимают строго в тех же условиях, что и спектр анализируемой пробы. Количество индивидуального вещества выбирают таким образом, чтобы интенсивность полос примерно соответствовала интенсивности его полос в спектре анализируемой пробы. [32]
В нашем примере можно вычеркнуть слабые линии церия, марганца, железа, ниобия, циркония и ванадия, так как спектр анализируемой пробы простой. [33]
Спектры индивидуальных веществ, которые служат для облегчения расшифровки анализируемого спектра, снимают строго в тех же условиях, что и спектр анализируемой пробы. Количество индивидуального вещества выбирают таким образом, чтобы интенсивность полос примерно соответствовала интенсивности его полос в спектре анализируемой пробы. [34]
 |
Оптическая схема спектрографа вать ДИффрЭКЦИОННЫе спектры ИСП-28. ВЫСОКИХ ПОрЯДКОВ, ПОЭТОМу.| Спектрографы, применяемые для определения элементос в зависимости от особенностей их спектров. [35] |
При выборе спектрографа необходимо учитывать, во-первых, область спектра, в которой располагаются аналитические линии определяемых элементов, во-вторых, сложность спектра анализируемой пробы. [36]
 |
Изображение спектров поглощения. [37] |
В качественном спектральном анализе необходимо определить, к излучению какой функциональной группы ( или молекулы) относится та или иная полоса в спектре анализируемой пробы. Для этого нужно найти длину волны полосы по ее положению в спектре, а затем с помощью таблиц ( табл. 7) определить ее принадлежность той или иной молекуле или функциональной группе. [38]
В интервале от 3500 до 3502 А в таблицах имеется 35 различных линий и установить, какая или какие из них действительно присутствуют в спектре анализируемой пробы, довольно трудно. Если длина волны той же линии определена точнее 3501 1 0 1 А, то задача резко упрощается, так как в интервале от 3501 0 до 3501 2 А в таблицах имеется всего 4 линии. [39]
Этот множитель можно легко найти из отношения разниц почернения одной и той же пары аналитических линий эталона на основной пластинке и на той, где зарегистрированы спектры анализируемых проб. [40]
Метод построения характеристических кривых должен исключать влияние эффекта Шварцшильда, для чего все марки почернения должны быть получены с одинаковым временем экспозиции, близким к времени фотографирования спектров анализируемых проб и эталонов. Это можно осуществить, применяя неселективный ступенчатый ослабитель, расположенный перед щелью спектрографа. [41]
 |
Уточнение постоянного. [42] |
Если условия проведения анализа остаются стабильными, то достаточно контролировать только контрастность каждой фотографической пластинки по разности почернений двух гомологических спектральных линий одного элемента, которые нетрудно выбрать в спектре анализируемой пробы. Если разность почернения этих линий оказывается вне интервала допустимых отклонений, то такая пластинка бракуется, и анализ повторяется снова. [43]
Если условия проведения анализа остаются стабильными, то достаточно контролировать только контрастность каждой фотографической пластинки по разности почернений двух гомологических спектральных линий одного элемента, которые нетрудно выбрать в спектре анализируемой пробы. Если разность почернения этих линий оказывается вне интервала допустимых отклонений, то такая пластинка бракуется, и анализ повторяется снова. Постоянный график строят в координатах AS-Ig С. [44]
При качественной оценке спектров наличие или отсутствие элементов, которые нельзя надежно обнаружить простым способом, например с помощью спектральных атласов, можно установить, фотографируя спектры предполагаемых элементов рядом со спектром анализируемой пробы с помощью диафрагмы на щели ( разд. В продаже имеются синтетические смеси на основе подходящей матрицы ( например, графита), содержащие определенные количества ( например, точно 1 %) наиболее часто определяемых на практике элементов. [45]
Страницы: 1 2 3 4