Cтраница 1
Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия ( РФЭС), известная также под названием электронной спектроскопии для химического анализа ( ЭСХА), является одним из важнейших методов анализа поверхности. В этом методе образец облучается моноэнергетиче-ским пучком мягкого рентгеновского излучения. Это излучение приводит к фотоэмиссии электронов, которые затем анализируются по энергии. [1]
С помощью метода рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии была выполнена серия работ по изучению зернограничной сегрегации примесей при охрупчивании хромоникелевых [36, 37], молибденовых и ванадиевых [275] сталей. Однако наиболее эффективным его использование оказалось в том случае [64], когда удалось добиться совмещения методов фотоэлектронной и сканирующей Оже-спектроскопии и провести исследование обоими методами в одной и той же рабочей камере в условиях сверхвысокого вакуума, когда поверхность излома в течение весьма длительного времени - 10 ч) практически не загрязняется остаточными газами. [2]
Этого недостатка лишен метод рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии [272], в котором поверхность образца подвергается действию рентгеновского излучения, вызывающего эмиссию электронов внутренних оболочек. Кинетическая энергия электронов равна разности энергии падающего фотона и энергии связи. [3]
Структуру поверхности ХМЭ исследуют методами рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии ( РФЭС) [ 137в, 156 ], спектроскопии КР, а также разнообразными электроаналитическими методами. ХМЭ ко валентно связанным регентом или полимерной пленкой. [4]
Процесс микрофазового расслоения был подтвержден методами рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии, электронной микроскопии и динамического механического анализа. [5]
![]() |
Типичный спектр рентгеновской дифракции АУВ и данные его анализа. [6] |
Представлены результаты исследований методами структурного анализа, рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии, электронной микроскопии, ЭПР и магнитной восприимчивости активированных углеродных волокон ( АУВ) с различной удельной поверхностью. [7]
![]() |
Влияние адгезионных грунтов на прочность при сдвиге соединений сплава Д16АТ на эпоксидном пленочном клее ВК-40. [8] |
Характер связей, образующихся между поверхностью металла ( сталью) и различными грунтами, был исследован с применением методов рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии и статической вторично-ионной масе-спектроскопии. При обработке стали грунтом А-187 на ее поверхности обнаружены свободные радикалы, что свидетельствует о химическом взаимодействии оксида железа с полисилоксаном. [9]
В настоящее время для изучения физики поверхности твердых тел широко используется метод дифракции медленных электронов ( ДМЭ), фотоэлектронная спектроскопия ( ФЭС), рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия ( РФЭС), метод дифракции отраженных электронов высокой энергии ( ДОЭВЭ) и Оже-спектроскопия. [10]
Важные для понимания природы межзеренкой хрупкости данные об изменении химического состава приграничных зон зерен при охрупчивании стали и сплавов железа получены также с использованием методов рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии 36, 37 ], рассеяния высокоэнергетических ионов [31], просвечивающей электронной микроскопии [38], внутреннего трения [22, 29] и других методов. [11]
![]() |
Возможности возбуждения фотоэлектронного спектра ( по. [12] |
Следовательно, для высвобождения электрона с определенного уровня необходима некоторая минимальная энергия возбуждения; некоторые возможные случаи сопоставлены на рис. 3.100. По способу возбуждения часто различают УФ-фотоэлектронную спектроскопию и рентгеновскую фотоэлектронную спектроскопию. [13]
![]() |
Взаимосвязь набухания и экстракции угля ( выход летучих веществ 39 5 %. [14] |
Представление о содержании в ОМУ подвижной фазы может быть дополнено сопоставлением свойств всей ОМУ и ее поверхностной части. Применение сканирующей рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии позволяет охарактеризовать отношение количеств разных элементов к количеству углерода на поверхности и в массе. В работе [49] были сопоставлены 19 образцов углей от бурых до антрацита. [15]