Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия

Cтраница 2

Вероятность появления эффекта Оже или рентгеновской флуоресценции у элементов в зависимости от их атомного номера.| Возбуждаемая часть образца при воздействии электронного пучка. [16]

Она в высшей степени зависит от состава ( матричный эффект) и состояния поверхности образца. В макроскопическом смысле рентгеновская и фотоэлектронная спектроскопия, как и спектроскопия Оже, являются неразрушающими методами анализа. [17]

Методы анализа поверхностных соединений на основе зондирующего воздействия. [18]

Методы вторично-ионной масс-спектрометрии, атомного зонда в полевом ионном микроскопе и полевой ионной масс-спектрометрии разрушают поверхность. Методы же электронной Оже-спектро-скопии, рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии, дифракции электронов низкой энергии и рассеяния медленных ионов не разрушают поверхность. При исследовании адсорбентов часто желательно применение методов, минимально возмущающих поверхность, а при использовании методов, требующих распыления вещества поверхности, необходимо обращать особое внимание на то, чтобы исследуемая поверхность не оказалась разрушенной, прежде чем будут получены этими методами сведения о ее состоянии и диффузии к ней атомов из глубины твердого тела. [19]

Рентгеновский фотоэлектронный спектр силикагеля с химически прибитым модифицирующим слоем, содержащим концевые аминогруппы ( сферисорб-5 - амино. [20]

Следует, однако, отметить, что метод рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии позволил обнаружить в исследованном химически модифицированном силика-геле примесь титана, пик которого отчетливо виден на рис. 5.14. В некоторых других промышленных образцах адсорбентов этим методом была обнаружена примесь натрия. Эти примеси не могут быть найдены обычным С, Н, N-анализом. В конце лекции 3 было показано, какое сильное влияние могут оказать некоторые неорганические примеси на адсорбционные свойства, особенно при малых заполнениях - поверхности, реализуемых в хроматографии. [21]

Приведенные примеры показывают целесообразность совместных исследований состояния переходных элементов и каталитической активности и селективности цеолитных катализаторов. Более того, контролируя состав поверхностного слоя с помощью рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии и используя совокупность факторов, от которых зависит способность переходных элементов к восстановлению - окислению, можно, по-видимому, более гибко регулировать такие важные для цеолитного катализа свойства переходных элементов, как степень восстановления и степень миграции металлов. [22]

Некоторые из физических методов особенно широко используются в химических лабораториях, например спектроскопия ЯМР и ЭПР, спектрополяриметрия ( ДОВ и КД), и поэтому они рассмотрены подробнее. В то же время с помощью менее распространенных методов, таких, как рентгеновская и фотоэлектронная спектроскопия ( ФЭС), ядерный квадрупольный резонанс, мессбауэровская спектроскопия, эффект Фарадея и др., получают также чрезвычайно важную информацию, поэтому некоторые из этих методов стали быстро развиваться, например ФЭС, и применение их химиками постоянно расширяется. Вообще ценность любого метода проявляется только тогда, когда он применяется для решения конкретных химических задач, и особенно возрастает при совместном использовании с другими методами. [23]

Несмотря на достигнутую разработанность ряда методов, процесс развития, углубления и расширения применений практически всех методов продолжается. Особенно следует отметить методы масс-спектромет-рии, ИК фурье-спектроскопии, лазерной КР, ЯМР, рентгеновской и фотоэлектронной спектроскопии, а также магнитного кругового дихроизма. [24]

Завершая данный обзор, хотелось бы надеяться, что удалось показать, каким образом физико-химические методы исследования могут быть эффективно использованы для изучения строения гетерогенных катализаторов. Использованные нами для изучения монолитных катализаторов очистки выхлопных газов автомобильных двигателей методы ( химического анализа, рентгеновской дифракции, просвечивающей электронной микросокпии, адсорбционных методов, рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии) представляют собой минимальный набор, с помощью которого могут быть установлены такие важные свойства твердых гетерогенных катализаторов, как химический и фазовый состав, текстурные характеристики ( величина удельной поверхности, общий объем пор и распределение пор по размерам), а также химический состав поверхности. [25]

В [34] исследованы процессы окисления пленок нитрида при различных температурах. В [35] однородные метаста-бильные А1 - О-N фазы, полученные методом магнетронно-го осаждения при использовании А1 - мишени и Аг - О2 - N2 смеси газов при г 190 С и различных давлениях О2 и N2 газов, исследовались методами рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии и электронной спектроскопии с угловым разрешением. Обнаружено формирование богатых кислородом нано-кристаллических А1 - О-N фаз с кубической ( типа у - А12О3) структурой; богатые азотом фазы имеют вюртцитоподобную гексагональную структуру. При O / N - 1 5 получаемые фазы аморфны. [26]

В разделе 2.3.2. обсуждаются работы ( преимущественно экспериментальные) по изучению локальных особенностей структуры связей в сетках a - Si. Предметом рассмотрения являются: исследования координационных чисел и координационных расстояний методами рентгеиоструктурного анализа и изучения протяженной тонкой структуры рентгеновского края поглощения ( ПТСРКП); исследования локальных особенностей структуры связей в a - Si C, х: Н методами инфракрасной ( ИК) и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии ( РФЭС) с использованием синхротронного излучения; исследование структуры связей в аморфном кремнии ( a - Si: F) методом ИК-спектроскопии ( основное внимание уделено колебательной моде 1015 см, природа которой остается спорной); влияние легирования на структуру связей; исследование химического состояния атомов инертных газов в полученном распылением a - Si методом РФЭС. Раздел 2.3.3 посвящен влиянию на структуру связей взаимодействия между достаточно удаленными один от другого атомами, т.е. эффектам взаимодействия распределенных по объему атомов. Здесь основное внимание уделяется: энергетическому сдвигу и ширине пиков ИК-спектров мк - Si; ИК-поглощенню, обусловленному колебательной модой, напряженной в результате беспорядка связи Si-Si и / нли атомами фтора в a - Si: F; ИК-колебательной спектроскопии связей Si Si в a - Si: Н, колебаниям сетки a - Si C, х: Н и некоторым особенностям структуры микрокристаллического кремния. В заключительном разделе 2.3.4 даются краткие выводы. [27]

В разделе 2.3.2. обсуждаются работы ( преимущественно экспериментальные) по изучению локальных особенностей структуры связей в сетках a - Si. Предметом рассмотрения являются: исследования координационных чисел и координационных расстояний методами рентгеиоструктурного анализа и изучения протяженной тонкой структуры рентгеновского края поглощения ( ПТСРКП); исследования локальных особенностей структуры связей в a - Si C, х: Н методами инфракрасной ( ИК) и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии ( РФЭС) с использованием синхротронного излучения; исследование структуры связей в аморфном кремнии ( a - Si: К) методом ИК-спектроскопии ( основное внимание уделено колебательной моде 1015 см, природа которой остается спорной); влияние легирования на структуру связей; исследование химического состояния атомов инертных газов в полученном распылением a - Si методом РФЭС. Раздел 2.3.3 посвящен влиянию на структуру связей взаимодействия между достаточно удаленными один от другого атомами, т.е. эффектам взаимодействия распределенных по объему атомов. Здесь основное внимание уделяется: энергетическому сдвигу и ширине пиков ИК-спектров мк - Si; ИК-поглощенню, обусловленному колебательной модой, напряженной в результате беспорядка связи Si-Si и / или атомами фтора в a - Si: F; ИК-колебательной спектроскопии связей Si Si в a - Si: Н, колебаниям сетки a - Si C, х: Н и некоторым особенностям структуры микрокристаллического кремния. В заключительном разделе 2.3.4 даются краткие выводы. [28]

В этом методе поверхность подвергается бомбардировке низкоэнергетичным рентгеновским излучением, которое является менее деструктивным, чем электронный пучок. Поглощенная энергия расходуется на ионизацию с прямым испусканием электрона с внутренней оболочки, то есть фотоэлектрона. Поэтому ЭСХА также называют рентгеновской фотоэлектронной спектроскопией. Эти электроны имеют глубину выхода менее одного нанометра. [29]

Попутно ставилась задача получить информацию о различии в пленках, образующихся в статических условиях ( выдерживание образцов в вазелиновом масле с присадкой при разных температурах) и при динамических испытаниях в условиях трения. Для полного понимания механизма противозадирного действия присадок необходимо было не столько определить наличие в пленках тех или иных элементов, входящих в состав присадок ( S, P, Cl, Zn), сколько идентифицировать химические соединения, из которых состоят пленки. Такую информацию как раз и обеспечивает рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. [30]

Страницы: 1 2 3 4