Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия

Cтраница 3

В трех наиболее важных методах поверхностного химического анализа производится анализ по энергиям электронов, эмиттированных с поверхности под действием бомбардировки ее либо ультрафиолетовыми фотонами, либо рентгеновскими фотонами, либо электронами. Все эти методы электронной спектроскопии базируются на том факте, что часть вылетевших электронов имеют энергии, характерные длщ определенных комбинаций энергетических уровней атомов, и, следовательно, характеризующие типы атомов, из которых состоит данное твердое тело. Процессы, происходящие в ультрафиолетовой фотоэлектронной спектроскопии ( УФЭС), рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии ( РФЭС) и Оже-электронной спектроскопии ( ОЭС), схематически показаны на рис. 2.2 с помощью диаграмм одноэлектронных энергетических уровней. [31]

Существует большой набор методов, позволяющих фиксировать свойства катализаторов. При их изучении могут быть использованы приемы мокрой химии, рентгенофазовый анализ, рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия ( РФЭС), электронная и месс-бауэровская спектроскопия, а также методы ЭПР и ЯМР. [32]

Структура низкоразмерных объектов не может быть определена только на основе метода рентгеновской дифракции. Известно, что наност-руктурные многокомпонентные пленки имеют очень широкие дифракционные максимумы низкой интенсивности, что обычно объясняется аморфным состоянием вещества, хотя кристаллическая природа нанос-труктурных пленок может быть подтверждена другими методами. Поэтому для характеристики низкоразмерных объектов рекомендуется использование комбинированного подхода с применением различных методов, таких как рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия, Рамановская спектроскопия, расширенные измерения поглощения рентгеновских лучей тонкой структурой ( EXAFS), электронная микроскопия высокого разрешения и спектроскопия энергетических потерь электронов. [33]

Схема фотоэмиссии электрона под действием ультрафио - S kk by. [34]

Рентгеновские фотоны вызывают эмиссию электронов с глубоких основных уровней атомов ( рис. X. Если использовать монохроматическое рентгеновское излучение с постоянной длиной волны ( обычно для этих целей применяется излучение линий А1К или MgKa), то электроны, испускаемые атомами разной природы, будут иметь отличные друг от друга значения кинетической энергии. Эти значения известны для атомов всех химических элементов, начиная с лития, что создает возможность применения рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии ( РФЭС) для качественного химического анализа поверхностей твердых тел. [35]

В данной лекции проведен сравнительный анализ ряда физико-химических методов, применяемых для исследования структуры твердых катализаторов. Показано, что оптимальный набор методов определяется на основе анализа свойств, которые должны быть охарактеризованы для изучаемой системы. Для твердых катализаторов этот набор включает: методы химического анализа, адсорбцию газов при низкой температуре, просвечивающую электронную микроскопию, селективную адсорбцию газов, рентгеновскую фотоэлектронную спектроскопию, рентгеновскую дифракцию. Обсуждаются физические принципы действия этих методов и тип получаемой информации. На примере исследования ряда монолитных катализаторов очистки выхлопных газов автомобильных двигателей продемонстрированы методические особенности практического применения выбранных методов. [36]

При фиксированной частоте v испущенные электроны имеют различные кинетические энергии. Откладывая число электронов, испущенных за данный промежуток времени, в зависимости от Т ( или более непосредственно от Ik - hv - Tk) получим спектр испущенных электронов. При использовании гелия и других подобных источников электромагнитного излучения этот метод носит название ультрафиолетовой фотоэлектронной спектроскопии ( УФС), в случае рентгеновских источников его называют рентгеновской фотоэлектронной спектроскопией ( РФС) или ЭСХА - электронная спектроскопия для химического анализа. [37]

При фиксированной частоте v испущенные электроны имеют различные кинетические энергии. Откладывая число электронов, испущенных за данный промежуток времени, в зависимости от Т ( или более непосредственно от / hv - Tk) получим спектр испущенных электронов. При использовании гелия и других подобных источников электромагнитного излучения этот метод носит название ультрафиолетовой фотоэлектронной спектроскопии ( УФС), в случае рентгеновских источников его называют рентгеновской фотоэлектронной спектроскопией ( РФС) или ЭСХА - электронная спектроскопия для химического анализа. [38]

Кинетическая энергия этих электронов равна разнице между энергией падающего фотона и энергией связи. Они, следовательно, характеризуют атомы и их валентное состояние. С помощью спектрометра определяется зависимость числа этих электронов от их кинетической энергии. Такой метод получил название рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии ( РФЭС), или ЭСХА, поскольку в основном он применяется для химической идентификации поверхностных компонентов и позволяет определять все элементы тяжелее гелия. В этом отношении он весьма близок к ОЭС высокого разрешения, отличаясь лишь тем, что вместо электронов поверхность зондируют рентгеновскими фотонами. Рентгеновское излучение обладает более высокой проникающей способностью, однако в диапазоне энергий, которым пользуется метод ЭСХА ( несколько килоэлектронвольт), разрешение по глубине примерно такое же, как в методе ОЭС ( см. рис. 10.5), и составляет 0 3 - 3 0 нм, хотя нижний предел редко бывает меньше 2 0 нм. [39]

Методы анализа поверхностных соединений на основе зондирующего воздействия. [40]

Методы зондирующего воздействия обычно применяются для изучения поверхностей металлов. Здесь получены наиболее достоверные качественные и в значительной степени количественные результаты. При применении этих методов к химически и термически нестойким и изменчивым в сверхвысоком вакууме поверхностям возникают большие трудности как в проведении опытов, так и в интерпретации результатов. Тем не менее метод рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии был применен для исследования некоторых из рассмотренных в этой лекции модифицирующих слоев. [41]

Ill) значительный интерес представляет информация о состоянии химических связей атомов примесей, обогащающих границы зерен. Актуальность этого вопроса обусловлена и тем, что учет состояния адсорбированных на границах атомов необходим при разработке термодинамических методов описания зернограничной сегрегации. Требуемая информация может быть получена методом рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии. Однако экспериментальных данных такого рода очень немного, что обусловлено сложностью и неоднозначностью интерпретации фотоэлектронных спектров. [42]

Изменение коэффициента трения при скольжении ин-дентора из политетрафторэтилена по стеклу. [43]

В этом исследовании было также обнаружено положительное влияние некоторых наполнителей ( смесь СиО и РЬ3О4) на снижение трения и износа при скольжении наполненного политетрафторэтилена по стали и алюминию за счет повышения адгезии полимерной пленки, образующейся на контртеле. Однако механизм этого влияния не ясен и требует дальнейшего изучения. Чтобы выяснить, как происходит связывание, было изучено взаимодействие политетрафторэтилена с различными металлами ( медь, свинец, серебро, цинк) и их окислами; применяли сочетание дифференциальной сканирующей калориметрии и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии. [44]

Наиболее быстро прогрессирующим разделом электрохимии в настоящее время является учение о кинетике и механизме электрохимических процессов. Своеобразие электрохимических процессов на границе электрод - раствор определяется их реализацией в области пространственного разделения зарядов, условно называемой двойным электрическим слоем. Теоретические и экспериментальные исследования строения двойного слоя составляют важный раздел современной электрохимии, новый этап в развитии которого ознаменован разработкой молекулярных моделей двойного слоя, применением прямых оптических методов in situ и мощных современных физических методов изучения поверхности ex situ ( дифракция медленных электронов, рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия, Оже-спектроскопия и др.), использованием в качестве электродов граней монокристаллов. [45]

Страницы: 1 2 3 4