Разрешающая способность - электронный микроскоп - Большая Энциклопедия Нефти и Газа, статья, страница 1
Скупой платит дважды, тупой платит трижды. Лох платит всю жизнь. Законы Мерфи (еще...)

Разрешающая способность - электронный микроскоп

Cтраница 1


Разрешающая способность электронных микроскопов на нескольк5 Порядков выше, чем оптических микроскопов, и ограничивается волновыми свойствами электронов при данной их энергии.  [1]

Разрешающая способность электронных микроскопов значительно выше оптических. Использование электронных лучей, обладающих очень малой длиной волны [ ( 0 04 - - 0 12) Ю 1 им I, дают возможность различать детали изучаемого объекта размерами до 0 2 - 0 5 им.  [2]

Разрешающая способность электронных микроскопов значительно выше оптических. Использование электронных лучей, обладающих очень малой длиной волаы [ ( 0 04 - г - 0 12) КГ1 нм ], дают возможность различать детали изучаемого объекта размерами до 0 2 - 0 5 нм.  [3]

4 Микроструктура железа ( а и стали с 0 8 % С ( б, а. а X 250. б - Х300. в - электронная микрофотография, X БООС. [4]

Разрешающая способность электронных микроскопов значительно выше оптических. Использование электронных лучей, обладающих очень малой длиной волны ( ( 0 04 - 0 12) 1СГ1 нм), дает возможность различать детали изучаемого объекта размером до 0 2 - 0 5 нм.  [5]

Разрешающая способность электронного микроскопа обычно определяется как наименьшее расстояние между двумя частицами объекта и для лучших приборов составляет 4 - 5 А.  [6]

Разрешающая способность электронного микроскопа ограничивается, с одной стороны, волновыми свойствами ( дифракцией) электронов, с другой - аберрациями электронных линз. С помощью электронных микроскопов можно добиться значительно больших увеличений ( до 106 раз), что позволяет наблюдать детали структур размерами 0 1 км.  [7]

Разрешающая способность электронного микроскопа, достигающая 1 нм при увеличении до 25000, дает возможность выявлять реальную геометрию дефектов, надмолекулярные структуры, образующиеся в процессе формования армированного пластика на границе раздела фаз, особенности взаимодействия компонентов в материале и деструкцию под действием внешних факторов.  [8]

9 Схематический рисунок колонны микроскопа МЭСМ-45. [9]

Разрешающая способность электронного микроскопа определяется рядом обстоятельств, из которых в первую очередь необходимо отметить хроматическую и сферическую аберрации электронных линз.  [10]

11 Получение отпечатка. 7 - образец. 2 - отпечаток. [11]

Разрешающая способность электронного микроскопа позволяет даже увидеть отдельные молекулы некоторых сложных вещестз. На рис. 325 представлены молекулы белкового вещества - эдестина, выделенного из конопляного семени.  [12]

Разрешающая способность электронного микроскопа достигает 20 - 10 - 8сж - 30 10т см. Для того чтобы детали структуры были различимы человеческим глазом, они должны быть увеличены до 0 3 мм.  [13]

Разрешающая способность электронных микроскопов значительно выше оптических. Использование электронных лучей, обладающих очень малой длиной волны [ ( 0 04 - f - 0 12) КГ1 нм ], дают возможность различать детали изучаемого объекта размерами до 0 2 - 0 5 нм.  [14]

Поскольку разрешающая способность электронного микроскопа зависит не только от аберраций объективной линзы, но и от длины волны электронов Я, корректное определение этого параметра возможно только на основе законов волновой оптики. Методом фурье-преобразова-ний наблюдаемый в микроскопе объект представляют набором структурных составляющих с разл.  [15]



Страницы:      1    2    3    4    5