Разрешающая способность - электронный микроскоп
Cтраница 4
 |
Схема получения слепка с поверхности металла для изучения его структуры при помощи электронного микроскопа. [46] |
В последнее время под электронным микроокопом изучают тонкие пленки исследуемого металла, в той или иной степени прозрачные для электронного луча. В этом случае разрешающая способность электронного микроскопа близка к величине межатомных расстояний. [47]
Предельные возможности измерительных приборов обусловлены физическими явлениями, формирующими процесс измерения. Например, предельная разрешающая способность оптических и электронных микроскопов определяется дифракционными и квантовыми эффектами, при дистанционном зондировании в аэрокосмических исследованиях решающую роль играют процессы взаимодействия электромагнитного излучения с земными покровами и его распространения в атмосфере. [48]
 |
Схема оттенешш металлом реплики. [49] |
Часто наблюдаются такие случаи, когда объект имеет детали, размер которых превышает разрешаемое микроскопом расстояние, однако вследствие низкой контрастности изображения эти детали не различимы. Поэтому, чтобы полностью использовать разрешающую способность электронного микроскопа и получить высококачественные электронно-микроскопические изображения, пользуются специальными приемами, позволяющими усилить контрастность объекта. Наиболее эффективным и широко распространенным методом увеличения контрастности реплик является метод оттенепия, который заключается в том, что на исследуемый объект или на его отпечаток в вакууме напыляется слой тяжелого металла под некоторым углом к поверхности. Благодаря наклонному направлению пучка частиц металла оттеняющий слой на объекте напыляется неравномерно. [50]
Опираясь на известную аналогию световых и электронных волн, стала развиваться новая отрасль физики - электронная оптика, изучающая волновые процессы в электронных пучках. На ее основе рассчитывается, в частности, разрешающая способность электронного микроскопа. [51]
Однако качество современной электронной оптики в электронных микроскопах не позволяет пользоваться аппертурным углом больше 0 003 радиана. Это дает при оптимальном потенциале порядка 30 - 40 кв максимальную разрешающую способность электронного микроскопа в 10 А. Практически разрешающая способность электронного микроскопа лежит в пределах 100 - 50 А. [52]
Действительно, для электронов с энергией 15 кэВ и ч 1 мрад имеем 6rdo 60 А, что является значительной величиной. Этим объясняется тот факт, что дифракция является очень важным ограничивающим фактором разрешающей способности электронного микроскопа. Определим разрешающую способность как радиус диска Эйри в положении объекта: если расстояние между двумя точками меньше, чем 8га0, то их изображения нельзя отделить друг от друга из-за дифракции. [53]
Разрешающая способность рентгеновских микроскопов значительно - на 2 - 3 порядка - ниже разрешающей способности электронных микроскопов. [54]
Очевидно, что более высокого разрешения получить при оттеиении платиной нельзя. Тем не менее часто приходится исследовать объекты, имеющие примерно такой же размер, особенно теперь, когда разрешающая способность электронных микроскопов достигла 10 А. Оттенение производится при этом способом, аналогичным получению самооттененных платиново-угольных отпечатков. [55]
 |
Платинированный асбест с 3 % платины. [56] |
На рис. 9 показаны волокна платинированного асбеста, содержащего 3 % платины6; снимок сделан с помощью электронного микроскопа при увели -; чении в 15 000 раз. На снимке видны отдельные кристаллы платины, причем наряду с очень мелкими кристаллами, размер которых лежит вблизи границы разрешающей способности электронного микроскопа, имеются и довольно крупные кристаллы, размер которых достигает десятых долей микрона. Наличием столь крупных кристаллов, повидимо-му, и объясняется то, что активность единицы веса платины, нанесенной на асбест, ниже активности единицы веса платины, нанесенной на другие носители. [57]
 |
Платинированный асбест с 3 % платины. [58] |
На рис. 9 показаны волокна платинированного асбеста, содержащего 3 % платины6; снимок сделан с помощью электронного микроскопа при увеличении в 15000 раз. На снимке видны отдельные кристаллы платины, причем наряду с очень мелкими кристаллами, размер которых лежит вблизи границы разрешающей способности электронного микроскопа, имеются и довольно крупные кристаллы, размер которых достигает десятых долей микрона. Наличием столь крупных кристаллов, повидимо-му, и объясняется то, что активность единицы веса платины, нанесенной на асбест, ниже активности единицы веса платины, нанесенной на другие носители. [59]
 |
Схема электронного микропроектора. [60] |
Страницы: 1 2 3 4 5