Cтраница 1
Измерения пиков механических потерь на образцах одного и того же полимера, имеющих разную степень кристалличности, обычно используются для выяснения механизма релаксационных процессов. Если высота максимума на - кривой tg5 f ( T) убывает с ростом к, то считается, что этот процесс происходит в аморфных областях. Обычно пик tg6, соответствующий размораживанию сегментального движения в аморфных областях ( аа-релаксация), убывает с ростом степени кристалличности и в очень сильно закристаллизованных образцах ( при к - 1) полностью вырождается. Положение аа-максимума на температурной шкале обычно зависит от к так же, как и Tg. Однако Грей и Мак-Крумм [16] обнаружили, что для релаксационного процесса, связанного со стеклованием политрифторхлорэтилена, Ялах возрастает с ростом степени кристалличности, a / max убывает. [1]
Измерения пиков механических потерь на образцах одного и того же полимера, имеющих разную степень кристалличности, обычно используются для выяснения механизма релаксационных процессов. Если с увеличением степени кристалличности высота пика tg 8 [ или площадь под этим пиком на кривой tg б / ( Т) ] возрастает, то полагают, что релаксационный максимум обусловлен процессами, происходящими в кристаллических областях. Если высота максимума на кривой tg б / ( Т) убывает с ростом х, то предполагается, что процесс происходит в аморфных областях. [2]
Измерение пиков пульсации производится диодным вольтметром с закрытым входом. Вольтметр градуируется непосредственно в пиковых значениях либо 8 2 раз меньших. [3]
Приемы измерения пиков в ВЭЖХ практически идентичны тем, которыми пользуются в газовой хроматографии. [4]
При измерении определенного пика поглощения данного вещества необходимо правильно выбрать СШЩ. Для пика с известной полушириной СШЩ должна быть равной или меньшей 0 1 его полуширины. Для больших СШЩ наблюдаются значительные отклонения измеряемой величины пика от его действительной величины. [6]
При измерении определенного пика поглощения данного вещества необходимо правильно выбрать СШЩ. Для пика с известной полушириной СШЩ должна быть равной или меньшей 0 1 его полуширины. Для больших СШЩ наблюдаются значительные от-клонения измеряемой величины пика от его действительной величины. [8]
![]() |
График зависимости отношения наблюдаемой величины пика к действительной величине пика от отношения СШЩ к полуширине наблюдаемой полосы поглощения. [9] |
При измерении определенного пика поглощения данного вещества необходимо правильно выбрать СШЩ. Для пика с известной полушириной СШЩ должна быть равной или меньшей 0 1 ее полуширины. [10]
Ошибка в измерении пика ( исключая пик стандарта) или поправочного коэффициента влияет только на соединение, для которого была допущена ошибка. [11]
Предложен метод, основанный на измерении пиков трех членов гомологического ряда и вычислении расстояния между истинным положением фронта и некоторой произвольной точкой. [12]
Последний, третий метод особенно удобен для измерения пиков, которые имеют заметные хвосты ( фиг. [13]
![]() |
Зависимость относительной среднеквадратичной ошибки от площади и формы пика.| Зависимость относительной среднеквадратичной ошибки определения площади пика от его размеров. [14] |
Автор совместно с В. Д. Барским и А. А. Аксениной исследовал воспроизводимость измерений пиков в широком интервале изменения размеров и формы пиков. [15]