Толщина - кристалл - Большая Энциклопедия Нефти и Газа, статья, страница 3
"Я люблю путешествовать, посещать новые города, страны, знакомиться с новыми людьми."Чингисхан (Р. Асприн) Законы Мерфи (еще...)

Толщина - кристалл

Cтраница 3


Изменение профиля при увеличении толщины кристалла схематически показано на фиг. Очевидно, что он обязательно должен проходить через положение, в котором возникают дополнительные максимумы.  [31]

Это позволяет значительно уменьшить толщину кристалла, не уменьшая угловую апертуру модулятора.  [32]

33 Теоретические профили толщинных экстинкционных полос. сплошные линии - интенсивность прямого пучка, штриховые-инте - сввность пучка в направлении дифракции. а - в отсутствии абсорб-ции. 6 - lg /. g0. 05. e - y lg - 0 10.| Изменения интенсивности прямого ( сплошные линии а дифрагированного ( штриховые пучков при изменении параметра несоответствия положения кристалла условию Вульфа-Брэгга ( ws g при наклоне кристалла. а - в отсутствие абсорбции. б - Js. [33]

В самом деле при толщине кристалла 1000 А при & да Ю-2 рад протяженность участка АА на верхней поверхности кристалла равна всего 2 ОА.  [34]

ЭДС Холла обратно пропорциональна толщине кристалла полупроводника.  [35]

Если длина цепи значительно больше толщины кристалла, рассмотренный выше случай встречается редко. Большинство участков цепей в граничных слоях закреплены своими концами на поверхности кристаллита.  [36]

Вдоль линий, для которых толщина кристалла равна ( г 1 / 2), где г - целое число, интенсивность дифрагированного излучения максимальна, и поэтому на изображении наблюдаются темные линии. Контуры такого типа мало смещаются при изменении наклона образца по отношению к падающему пучку.  [37]

Было также установлено, что толщина кристаллов линейного полиэтилена в виде плоских пластинок, выращенных из разбавленных растворов при температуре около 80 С, составляет величину порядка 100 А. Кроме того, при кристаллизации в идентичных условиях образуются различные ( хотя и в чем-то сходные) морфологические структуры. На рис. II 1.8 представлена наиболее типичная морфологическая форма кристаллизации при сравнительно низких ( 70 - 80 С) температурах, представляющая собой полую пирамиду.  [38]

На рис. 6.9 приведена зависимость толщины кристалла от времени, например, для льда.  [39]

В генераторах Ганна, имеющих толщину кристалла с высоким удельным сопротивлением более 200 мкм и работающих в пролетном режиме, колебания получаются, как правило, некогерентными. Это вызвано наличием в каждом из кристаллов нескольких дефектов, на которых могут зарождаться домены. Путь, пробегаемый доменом от места его зарождения до анода, определяет период колебаний. Применение приборов с междолинным переходом электронов практически оправдано в диапазоне частот более 1 ГГц, что соответствует толщине высокоомного полупроводника / 100 мкм.  [40]

41 Зависимость тока, проходящего через генератор Ганна, от времени. [41]

В генераторах Ганна, имеющих толщину кристалла между электродами более 200 мкм, колебания, как правило, некогерентны.  [42]

43 Зависимость тока, тока через кристалл будет сохра. [43]

В генераторах Ганна, имеющих толщину кристалла между электродами более 200 мкм, колебания, как правило, некогерентны. Это связано с наличием в каждом из кристаллов нескольких дефектов, на которых могут зарождаться домены. Путь, пробегаемый доменом от места его зарождения до анода, определяет период колебаний. Применение генераторов Ганна практически оправдано в диапазоне частот более 1 ГГц, что соответствует толщине кристаллов полупроводника между электродами / 100 мкм.  [44]

В генераторах Ганна, имеющих толщину кристалла с высоким удельным сопротивлением более 200 мкм и работающих в пролетном режиме, колебания получаются, как правило, некогерентными. Это вызвано наличием в каждом из кристаллов нескольких дефектов, на которых могут зарождаться домены. Путь, пробегаемый доменом от места его зарождения до анода, определяет период колебаний. Применение приборов с междолинным переходом электронов практически оправдано в диапазоне частот более 1 ГГц, что соответствует толщине высокоомного полупроводника / 100 мкм.  [45]



Страницы:      1    2    3    4    5