Интенсивность - дифракционный максимум
Cтраница 1
Интенсивности дифракционных максимумов непосредственно связаны с порядковыми номерами атомов, образующих кристаллическую структуру, и с их расположением в трех измерениях. [1]
Интенсивность дифракционных максимумов зависит от следующих факторов: поляризационного, структурного, атомного, температурного, фактора Лоренца, фактора повторяемости и адсорбционного фактора. [2]
 |
Упрощенная схема энергетических переходов в атоме, вызывающих появление спектральных линий в рентгеновских спектрах. [3] |
Интенсивность дифракционных максимумов рассеяния зависит от электронной плотности у атомов тех кристаллических плоскостей, на которых происходит рассеяние рентгеновского излучения. Наблюдение дифракционных максимумов различного порядка позволяет определить структуру кристаллического вещества, в частности расстояние d между плоскостями кристаллической решетки, если известна длина волны рентгеновского излучения. [4]
Аналогично интенсивности дифракционных максимумов определяются интенсивностью рассеяния в направлениях максимумов от групп атомов, тождественно связанных с каждым узлом решетки кристалла. [5]
Проведено сопоставление интенсивностей дифракционных максимумов для поликристаллнческих пленок фтористого натрия при температурах комнатной и жидкого азота. Рассчитаны амплитуды тепловых колебаний атомов, характеристические температуры и факторы Дебая - Валлера для различных рефлексов. [6]
Определяя положение и интенсивность дифракционных максимумов ( для нативного белка и для соответствующего числа его изоморфных производных), можно в принципе вывести из этих данных структуру интересующего нас белка. Для получения высокого разрешения требуется провести измерения на очень большом числе дифракционных максимумов. [7]
От каких факторов зависит интенсивность дифракционных максимумов при рассеянии рентгеновских лучей кристаллами. [8]
С другой стороны, интенсивность дифракционного максимума зависит от взаимного расположения атомов в ансамбле, и мы обсудим этот вопрос в данном разделе ниже. [9]
Количество рефлексов, положения и интенсивность дифракционных максимумов на рентгенограммах изменяются в соответствии с длиной алкок-сидного заместителя в комплексе. [10]
 |
Схема установки для массбауэ-ровской дифракции. [11] |
Мессбауэрография на основе данных об интенсивности дифракционных максимумов и поляризации излучения позволяет получать ценнейшую информацию о структуре и симметрии градиентов внутрикристаллических полей. Это имеет значение для изучения природы ряда явлений, в частности, для исследования фазовых переходов, например, сегнетоэлектрических, которые сопровождаются малыми искажениями элементарной ячейки кристалла и трудно детектируются другими дифракционными методами. [12]
Количество рефлексов, положения и интенсивность дифракционных максимумов на рентгенограммах изменяются в соответствии с длиной алкок-сидного заместителя в комплексе. [13]
При диф-ракциометрическом методе регистрации непосредственно измеряют интенсивности дифракционных максимумов. [15]
Страницы: 1 2 3 4