Интенсивность - дифракционный максимум
Cтраница 4
Однако здесь мы приходим к формулированию главного затруднения в рентгеноструктурном анализе. Мы не знаем метода регистрации рентгеновских лучей, чувствительного к фазе колебаний. Мы измеряем всегда только интенсивность дифракционного максимума, а она дает нам величину F Z; иначе говоря, измеряя интенсивности пятен, мы не находим нужных нам амплитудных коэффициентов, а лишь квадраты их модулей. Фаза колебаний пропадает и потому нельзя попросту составить ряд Фурье для электронной плотности на основании измеренных величин. Необходимы огромные дополнительные усилия для нахождения фаз всех амплитудных коэффициентов. [46]
Рассмотрим структуру растянутого па 900 % при 20 образца. По сравнению с нерастянутым образцом размер кристаллита в направлении Н002 практически не изменился, в то время как в направлении Н110 он уменьшился примерно в три раза. Из рис. 2, а видно, что для этого образца интенсивность малоуглового дифракционного максимума очень слабая. [47]
 |
Зависимость физической ширины рентгеновской линии меди в слоях различной толщины от удельной нагрузки ( а и температуры предварительного отжига ( б. [48] |
Результаты анализа показали, что если на глубине около 5 мкм аномальный характер изменения интенсивности дифракционных максимумов, вызванный предварительной обработкой образцов, несколько сохраняется, то в тонких поверхностных слоях указанная аномалия полностью отсутствует. [49]
В [5] показано, что в процессе длительных испытаний изменения происходят в основном в самых тонких поверхностных слоях, непосредственно прилегающих к свободной поверхности. Анализ рентгенограммы образцов, испытанных в условиях установившегося режима трения, показал, что если на глубине около 5 мкм аномальный характер изменения интенсивности дифракционных максимумов несколько сохраняется ( это соответствует геометрически неоднородной высокоэнерге-тичной области скопления дислокаций), то в тонких поверхностных слоях такая аномалия полностью отсутствует. [50]
В табл. 3.4 - 3.36 приведены наиболее характерные свойства цеолитов. В ряде случаев отнесение порошковых дифрактограмм оказалось довольно затруднительным, поскольку некоторые различия на рентгенограмме могут быть обусловлены изменением состава ионообменных катионов. Каждый минерал описывается в отдельной таблице, в которую включены данные порошкограмм, взятые из различных работ, в том числе из картотеки порошковых дифрактограмм. Интенсивности дифракционных максимумов приводятся в тех же шкалах, в которых они даны в оригинальных работах. В некоторых случаях значения интенсивпостей линий выражены в относительной шкале с использованием следующих обозначений: о. [51]
Экспериментально можно показать, что малоугловая дифракция от ориентированных полимеров есть результат одномерной дифракции. Поэтому структурный элемент ( микрофибрилла), ответственный за появление малоугловой дифракции, должен обладать линейным периодическим строением. Так как большинству ориентированных полимеров свойственен дифракционный максимум лишь одного порядка ( очень редко 2 - 3), а максимумы имеют значительную ширину, то совокупность кристаллитов и аморфных участков образует малоупорядоченную одномерную систему. Для анализа распределения интенсивности дифракционных максимумов в этом случае наиболее часто применяют способ модельных расчетов, суть которого - в выборе определенной схемы строения фибрилл и последующем расчете дифракции по такой схеме. [52]
Выражение (1.32) описывает основную хаотическую часть теплового движения атомов в твердом теле. Другая часть обусловлена наличием химической связи между атомами ( атомы в твердом теле связаны между соббй как бы пружинками) и представляет собой тепловые колебания решетки в целом. Рассеяние, связанное с этими колебаниями, называют диффузным. Интенсивность максимумов диффузного рассеяния во много раз меньше интенсивности основных дифракционных максимумов и сами диффузные максимумы более размыты. [53]
Несколько строго параллельных слоев образуют турбостратные группы с межслоевым расстоянием 35 пм и ламелями битумов, которые менее ароматизированы. Каждый такой слой имеет произвольную ориентацию по отношению нормали к плоскости. Были вычислены размеры кристаллитов, хотя последние отличаются от кристаллитов графита, так как строгая ориентация атомов углерода имеет место лишь в двух направлениях. Советский ученый В.И.Касаточ-кин отмечал, что метод измерения интенсивности дифракционного максимума 002 по существу может быть применен лишь для определения упорядоченности углеродных слоев. В соответствии с этой концепцией предложена молекулярная модель веществ углей в виде пространственного полимера, структурной единицей которого является плоская гексагональная углеродная сетка с боковыми радикалами и функциональными группами. Структурные единицы в макромолекуле связаны боковыми цепями. [54]
Степень несовершенства естественного и синтетического кристалла различна. Идеальный несовершенный кристалл должен содержать небольшие мозаичные блоки размером порядка 10 - 5 см, отклонения от правильной ориентировки этих блоков не более нескольких дуговых минут относительно друг друга. Интенсивность дифракционных максимумов таких кристаллов значительно больше. Примерами таких несовершенных кристаллов являются кристаллы галоидов щелочных металлов, таких, как LiF или NaCl. Кристалл кварца более совершенен, но количество мозаики можно увеличить легкой шлифовкой его поверхности. Как отмечено в табл. 8, интенсивность дифракционных максимумов для жесткого излучения можно удвоить полировкой поверхности кристалла. Бирке [15] утверждает, что умышленное введение упругих или пластических напряжений в данный кристалл обычно увеличивает и. Уайт [23], например, показал, что интенсивность максимумов кристалла кварца с упругими напряжениями увеличивается в 12 раз. [55]
Страницы: 1 2 3 4