Интенсивность - дифракционный максимум
Cтраница 2
Рассеяние на двумерной решетке определяет положения и интенсивности дифракционных максимумов. Анализ геометрической картины дифракции дает возможность установить значения межплоскостных расстояний dn и постоянных решетки а для поверхности, исходя из положений максимумов. [16]
Множитель e - 2W, описывающий ослабление интенсивности дифракционных максимумов в результате теплового движения атомов, называется фактором Дебая - Валлера. [17]
Определить, при каких расстояниях Az между решетками интенсивность дифракционных максимумов 1-го порядка максимальна и минимальна. [18]
Как и в подобных рентгенограммах соединений включения амилозы с к-спиртами, интенсивности дифракционных максимумов второго и более высокого порядка очень слабые или вообще отсутствуют. [19]
При смещении одной из решеток вдоль оси z со скоростью v интенсивность нулевого дифракционного максимума периодически изменяется. [20]
 |
Оптическая схема микроскопа светового сечения.| Схема рефлексометра. [21] |
Существуют разновидности метода, основанные, например, на использовании сходящихся пучков и регистрации интенсивности дифракционного максимума, отраженного от изделия, качество которого также определяют сравнением с эталоном. [22]
При смещении одной из решеток вдоль оси г со скоростью v ( рис. 4.24) интенсивность нулевого дифракционного максимума периодически изменяется. [23]
Рентгеновский способ определения Э основан на том, что с изменением 0 меняется ( в ту же сторону) интенсивность дифракционных максимумов. [24]
Количественный рентгенофазовый анализ, в задачу которого входит определение количественного содержания отдельных фаз в многофазовых поликристаллических материалах, основан на зависимости интенсивности дифракционных максимумов ( отражений) от содержания определяемой фазы. С увеличением содержания той или иной фазы интенсивность ее отражений увеличивается. Однако для многофазовых препаратов зависимость между интенсивностью и содержанием данной фазы неоднозначна, поскольку величина интенсивности отражения определяемой фазы зависит не только от ее содержания, но и от показателя ослабления ц, характеризующего степень ослабления рентгеновского пучка при прохождении через данное вещество. Указанный показатель ослабления исследуемого вещества зависит от показателей ослабления и содержания всех фаз, входящих в его состав. Таким образом, любой метод количественного анализа должен тем или иным способом учитывать или исключать влияние изменения показателя ослабления при изменении состава препаратов, нарушающего прямую пропорциональность между содержанием данной фазы и интенсивностью ее дифракционного отражения. [25]
Вначале строят вспомогательный график зависимости функции г ( 0, 7 Т2) от 0 для данных значений Т и Г2, при которых определяли интенсивность дифракционных максимумов. [26]
Вычисление среднего размера кристаллита мы не могли провести в данном случае, так как нельзя было сложить несколько пленок для получения оптимальной толщины образца и вследствие этого интенсивность дифракционных максимумов более высоких порядков отражения была слишком слабой. [27]
 |
Проекция структуры соединения включения амилозы с иодом ( о и с безводным бутанолом ( б ла плосйость, перпендикулярную оси спирали. [28] |
Рандль [69] указывает, что максимум интенсивности, появляющийся в центре спирали на проекции, полученной при рентгеноструктурном анализе амилозы, осажденной безводным бутанолом, является, вероятно, ложным, возникающим как результат преждевременного обрыва ряда Фурье из-за невозможности измерения интенсивности очень слабых дифракционных максимумов, полученных при больших углах падения рентгеновского луча. [29]
Интенсивность рассеяния излучения атомом зависит от типа атома и его положения в ячейке. Интенсивность дифракционных максимумов измеряется по степени почернения фотопластинки или более точными электронными методами, в последние годы в основном с помощью автоматических дифрактомет-ров. Распределение электронной плотности устанавливается методами гармонического анализа дифракционных картин. [30]
Страницы: 1 2 3 4