Взаимная интенсивность

Cтраница 1

Взаимная интенсивность распространяется до линзы, здесь вводится амплитудная функция пропускания линзы, а затем прошедшая взаимная интенсивность распространяется до плоскости изображения. [1]

Взаимная интенсивность, наблюдаемая на поверхности на некотором расстоянии от источника, может быть вычислена на основании теоремы Ван Циттерта - Цернике. [2]

Взаимная интенсивность для всех пар точек поверхности, пересекающей пучок стационарного квазимонохроматического света, имеет вид J ( Pi, PI) f ( Pi) g ( P2), где f ( P) и ( Р) - некоторые известные функции полож: ения точки на поверхности. [3]

Взаимную интенсивность Jz можно, конечно, найти, выполнив обратное преобразование Фурье спектра ft, который в свою очередь может быть вычислен на основе изложенной выше теории. [4]

Комплексную взаимную интенсивность квазимонохроматической волны всегда можно интерпретировать физически, рассматривая амплитуду и пространственную фазу интерферограммы. Как теоретический, так и практический интерес представляет вопрос о предельной точности, с которой параметры такой интерферограммы могут быть измерены экспериментально. [5]

Наконец, взаимная интенсивность света, выходящего из линзы, должна распространяться на дополнительное расстояние f до задней фокальной плоскости. [6]

Здесь Jp - взаимная интенсивность, прошедшая через выходной зрачок, a Si - ограничивающая апертура этого зрачка. [7]

Таким образом, взаимная интенсивность света, падающего на объект, является функцией только разности координат в плоскости объекта и может быть легко найдена путем преобразования Фурье распределения интенсивности источника. [8]

Предположим также, что взаимная интенсивность J0 света, падающего на объект, зависит только от разностей координат Д 2 - ii, Arj rj2 - rji, как это часто имеет место на практике. [9]

Мы решили рассматривать в своем анализе взаимные интенсивности, а не взаимные спектральные плотности потому, что функции J12 непосредственно описывают амплитуду и фазу пространственной интерференционной структуры, тогда как взаимная спектральная плотность не является прямой характеристикой такой структуры. [10]

Летучесть химических элементов. [11]

Кроме фракционного испарения большое влияние на взаимную интенсивность спектральных линий оказывает общий петрографо-минералогический состав анализируемой пробы. Различные химические элементы, входящие в состав пробы, при испарении, попадая в дуговой промежуток, сильно меняют эффективный ионизационный потенциал столба пламени дуги и тем самым соответственно и температуру пламени дуги, что в свою очередь сильно сказывается на интенсивности спектральных линий исследуемых элементов. [12]

Важным частным случаем является случай, когда взаимная интенсивность 0 ( х0, у0, ZQ) O ( X Q, y Q9 ZQ)) отлична от нуля лишь в столь малой окрестности точки ( х0, yQ, ZQ), в которой К ( х, у, z; х 0, y Q9 z) изменяется очень слабо. [13]

Обозначения к формуле для взаимной спектральной плотности дальнего поля, создаваемого трехмерным первичным источником. [14]

Уравнение (5.2.6) вместе с выражением (5.2.8) для взаимной интенсивности излучения источника представляет собой основную формулу для излучения от флуктуирующих стационарных ( точнее, стационарных в широком смысле) трехмерных источников. [15]

Страницы: 1 2 3 4