Грань - растущий кристалл - Большая Энциклопедия Нефти и Газа, статья, страница 1
Рассказывать начальнику о своем уме - все равно, что подмигивать женщине в темноте, рассказывать начальнику о его глупости - все равно, что подмигивать мужчине на свету. Законы Мерфи (еще...)

Грань - растущий кристалл

Cтраница 1


1 Силикатные цепи. [1]

Грани растущего кристалла могут адсорбировать посторонние вещества, наличие которых нарушает его рост.  [2]

Рассмотрим грань растущего кристалла, на которой возникает новая фаза, имеющая форму прямоугольного параллелепипеда с линейными размерами сг X сг X а, на котором, в свою очередь, расположен зародыш новой фазы с размерами с2 X с2 X а.  [3]

4 Схематический вид структур гипотетической двухмерной. [4]

Когда грани растущего кристалла находятся в неодинаковых условиях, образуются монокристаллы с неправильными очертаниями.  [5]

6 Зависимость числа зародышей ( ч. з, средней скорости их роста ( с. р, изменения свободной энергии при кристаллизации Д / - 1, средней скорости кристаллизации v и коэффициента диффузии D от степени переохлаждения ДГ. Тап - равновесная температура плавления ( кристаллизации. [6]

На гранях растущего кристалла всегда имеются различные дефекты поверхности в виде ступенек и выступов, на которых легко удерживаются новые атомы, поступающие из жидкости.  [7]

8 Разветвленные древовидные кристаллы ( дендриты. [8]

Располагаясь на гранях растущего кристалла, эти вещества уменьшают поверхностное натяжение и уменьшают величину критического зародыша ( Кк 4 a / A G), что увеличивает их число.  [9]

Степень термического переохлаждения вблизи грани растущего кристалла в однокомпонентных расплавах многих металлов очень мала ( 0 1 - 0 01 С) и измерение ее чрезвычайно затруднено. В двухкомпонентных расплавах измерение термического переохлаждения, достигающего несколько больших значений ( 10 - 12 С), облегчается. В двухкомпонентной системе переохлаждение вблизи грани растущего кристалла может быть и термическим, и диффузионным.  [10]

Скорость роста определяется скоростью продвижения грани растущего кристалла и зависит от механизма роста, кристаллографического направления, градиента температур и концентраций, что существенным образом отражается на конечной структуре слитка.  [11]

Сильный поток пересыщенного раствора возле граней растущих кристаллов смывает раствор, переставший быть пересыщенным, и непрерывно заменяет его свежим пересыщенным раствором.  [12]

Представляет интерес высказывание В. И. Архарова о том, что адсорбция на грани растущего кристалла поверхностно активных примесей обусловлена плотностью вакансий и дислокаций, размером и ориентацией блоков.  [13]

Большинство исследователей объясняют модифицирование избирательной адсорбцией поверхностно активных веществ на гранях растущих кристаллов. Покрытие граней адсорбционным слоем, препятствующим дальнейшему их росту, обусловливает уменьшение линейной скорости роста. Даже в случае неизменной скорости зарождения центров кристаллизации это приводит к увеличению количества центров и измельчению зерна. Адсорбционный механизм модифицирования развит в работах Гваяра и Филлипса [80], Ребиндера и Липмана [81], Семенченко 82 ] и других авторов.  [14]

Однако блокирование поверхности наступает сразу, если плотность тока на гранях растущего кристалла опустится ниже некоторого предела. Понижение же плотности тока на растущих кристаллах происходит вследствие локального обеднения ионами металла прилегающего к кристаллу слоя электролита; на катоде все время происходит перераспределение тока между теми кристаллами, которые уже успели истощить вокруг себя электролит, и теми, которые только начинают свой рост. Чем интенсивнее добавка блокирует поверхность металла, тем короче оказывается период роста каждого кристалла и тем мельче структура получающегося осадка.  [15]



Страницы:      1    2    3    4    5