Магнитографическая дефектоскопия
Cтраница 1
Магнитографическая дефектоскопия основана на воздействии поля дефекта на магнитную ленту, поэтому детальное изучение магнитного поля над дефектом, установление связей его параметров с магнитным состоянием исследуемого изделия и нахождение оптимальных условий для работы магнитной ленты являются главными вопросами магнитографической дефектоскопии. [1]
Способ магнитографической дефектоскопии основан на намагничивании зоны сварного шва вместе с прижатой к его поверхности эластичной магнитной лентой, фиксации возникающих на ней в местах дефектов полей рассеивания и последующем воспроизведении полученной записи. Считывание магнитных отпечатков полей дефектов осуществляется в специальных дефектоскопах, где запись при помощи воспроизводящих магнитных головок преобразуется в электрические сигналы, а магнитная лента может быть использована как объективный документ, сохраняющий данные о качестве проконтролированного изделия ответственного назначения. Достоинством магнитографического метода является высокая чувствительность к дефектам, расположенным на глубине до 15 - 20 мм, возможность импульсной и видеоиндексации дефектов на экране электронно-лучевой трубки. Основными недостатками магнитографического метода являются недостаточная чувствительность к выявлению округлых дефектов ( шлаковые включения и газовые поры), расположенные в корне шва, а также низкое качество визуализации магнитной записи на люминесцентном экране электронно-лучевой трубки. Этот недостаток обуславливается тем, что из-за малого послесвечения люминесцентного экрана за время заполнения строками полного кадра на экране дефектоскопа, начало формируемого изображения успевает потускнеть. [2]
Техника магнитографической дефектоскопии представляет собой в настоящее время такую обширную область, что разобрать все ее виды не представляется возможным без ущерба эффективного использования времени, выделенного на изучение данной проблемы. Поэтому целесообразно ограничиться рассмотрением наиболее трудных условий применения магнитографического анализа - дефектоскопией изделий, имеющих сложную форму поверхности. Самым распространенным видом таких изделий являются сварные соединения. Переход к более простым по форме объектам анализа не представляет особых трудностей для применения магнитографической дефектоскопии. [3]
Для магнитографической дефектоскопии определенный интерес представляют характер изменения намагниченности металла вдоль сечения сварного соединения и величина поля подмагничивания, действующего на ленту при магнитной записи дефектов в различных сварных соединениях. В этом случае хорошо известные баллистические методы магнитных измерений становятся неприемлемыми вследствие сложной формы усиления сварного шва. [4]
В магнитографической дефектоскопии нельзя произвольно менять величину поля дефекта, цель ее заключается в обнаружении данного поля и записи его в неискаженной форме на ленте. [5]
При магнитографической дефектоскопии сварного соединения вектор поля дефекта направлен, как правило, вдоль ширины ленты. Воспроизведение магнитной записи также происходит поперек ленты. [6]
 |
Кинематическая схема длиннополюсного намагничивающего устройства ( ДНУ. [7] |
При магнитографической дефектоскопии плоских изделий больший эффект достигается применением стационарных длиннополюс-ных намагничивающих устройств ( ДНУ), токовые обмотки которых включаются синхронно с движением магнитной ленты вдоль исследуемого сварного шва. [8]
Существенный недостаток магнитографической дефектоскопии - отсутствие надежных способов эталонирования контраста магнитной записи поля дефекта на ленте. [9]
Оптические способы магнитографической дефектоскопии излагаются как перспектива дальнейшего развития магнитографии. [10]
Применяемые при магнитографической дефектоскопии ленты МК-1 и МК-2, как известно, имеют толщину магнитного слоя более 20 мкм. Для диполей, длина которых меньше 20 мкм, магнитный слой этих лент обладает значительными слойными потерями и размагничивающим фактором, тем более при записи полей дефектов без высокочастотного подмагничивания ленты, как это делается обычно при магнитографическом контроле сварных соединений. Следовательно, такие короткие полуволновые диполи магнитных полей рассеяния, если они даже и существуют ( например, над поверхностными микротрещинами), не могут создать на магнитной ленте устойчивой записи. [11]
Существующие средства рентгеногаммаграфической, ультразвуковой, электромагнитной и магнитографической дефектоскопии требуют полного вскрытия и очистки трубопровода на всем протяжении контролируемого участка. Испытания повышенным давлением проводятся с временной остановкой транспортирования продукта. Выборочное вскрытие участка трубопровода и контроль в отдельных точках не позволяют получить объективную информацию о состоянии металла труб по всей длине трубопровода. [12]
Основной элемент в магнитографической дефектоскопии - магнитная лента - выполняет двойную роль: сначала служит индикатором поля дефекта, фиксируя это первичное, исходное поле в виде пространственного распределения остаточной намагниченности рабочего слоя, а затем сама становится источником вторичного, отображенного магнитного поля, которое, в свою очередь, считывается еще одним индикатором. Соответственно этому магнитографический контроль состоит из двух процессов: записи и считывания. [13]
Перспективность оптических способов магнитографической дефектоскопии заключается в возможности получения практически мгновенной оценки качества исследуемого сварного соединения. [14]
Основной элемент в магнитографической дефектоскопии - магнитная лента - выполняет двойную роль: сначала служит индикатором поля дефекта, фиксируя это первичное, исходное поле в виде пространственного распределения остаточной намагниченности рабочего слоя, а затем сама становится источником вторичного, отображенного магнитного поля, которое, в свою очередь, считывается еще одним индикатором. Соответственно этому магнитографический контроль состоит из двух процессов: записи и считывания. [15]
Страницы: 1 2 3 4