Cтраница 2
Однако в случае магнитографической дефектоскопии явления, возникающие при циклическом перемагничивании изделия, могут при определенных условиях режима намагничивания привести к положительному эффекту, заключающемуся в том, что при циклическом режиме магнитной записи дефектов сварного соединения вместо ожидаемого ослабления контраста записи поля дефекта на ленте наблюдается увеличение полезного сигнала. [16]
Магнитные ленты применяют в магнитографической дефектоскопии. Ленты бывают одно - и многослойными. Чаще применяют двухслойные ленты, состоящие из несущей немагнитной основы ( лавсан, ацетилцеллюлоза и др.) и магнитоактивного слоя в виде порошков окиси железа, взвешенного в лаке, обеспечивающего хорошую адгезию с основой. [17]
Но так как при магнитографической дефектоскопии скорость движения магнитной головки v const, можно с полным основанием считать, что практически и TI const. [18]
Таким образом, техника магнитографической дефектоскопии требует применения двух видов индикации. Однако, на наш взгляд, совмещение двух видов индикации в одном приборе нецелесообразно, так как в таком дефектоскопе-комбайне трудно раскрыть все преимущества импульсных и телевизионных систем воспроизведения. [19]
Магнитные ленты применяют в магнитографической дефектоскопии. Ленты бывают одно - и многослойными. Чаще применяют двухслойные ленты, состоящие из несущей немагнитной основы ( лавсан, ацетилцеллюлоза и др.) и магнитоактивного слоя в виде порошков окиси железа, взвешенного в лаке, обеспечивающего хорошую адгезию с основой. [20]
Магнитные ленты применяют в магнитографической дефектоскопии. Двухслойные ленты состоят из немагнитной основы ( ацетилцеллюлозы, поливинилхлори-да, лавсана) и магнитоактивного слоя - порошков оксида железа, взвешенного в лаке, обеспечивающего хорошую адгезию с основой. [21]
Магнитные ленты [22] применяют в магнитографической дефектоскопии. Двухслойные ленты состоят из немагнитной основы ( ацетилцеллюлозы, поливинилхлорид а, лавсана) и магнитно-активного слоя - порошков окиси железа, взвешенного в лаке 4 обеспечивающего хорошую адгезию с основой. [22]
Основной особенностью процесса воспроизведения при магнитографической дефектоскопии является, что в соответствии с направлением намагничивания сварных швов и записи полей дефектов на ленте считывание магнитограммы осуществляется строка за строкой поперек магнитной ленты. [23]
Такой случай имеет место в магнитографической дефектоскопии. Действительно, описанные выше исследования топографии магнитного поля в зоне сварного соединения показали, что распределение намагниченности на ленте имеет значительно меньший градиент магнитной записи, обусловленный полем дефекта, по сравнению с градиентом намагниченности, обусловленным формой усиления и че-шуйчатостью сварного шва. В таких условиях индукционная головка воспроизводит так много ложных сигналов, что выявить на их фоне поле дефекта трудно. Еще более сложной и практически неразрешимой проблемой является получение с помощью индукционной головки характеристик, описывающих изменение величины магнитной индукции в зоне сварного шва, являющейся основным и единственным параметром, определяющим качество исследуемого объекта. [24]
Из изложенного очевидно, что в магнитографической дефектоскопии для расшифровки магнитной записи целесообразно применять не индукционные магнитные головки, а потокочувствительные, воспроизводящие распределение магнитного поля в зоне сварного соединения. Однако известные в настоящее время потокочувствительные магнитные головки модуляционного типа [72], головки, работающие на принципе эффекта Холла [74, 114], магнитокон-центрационные [115] и частотные головки, описанные ниже, имеют пока меньшую чувствительность по сравнению с индукционными головками, поэтому для магнитографической дефектоскопии могут представить интерес магнитные ленты, имеющие рабочий слой в виде отдельных полосок вдоль ленты. [25]
Обычные измерительные устройства, применяющиеся в магнитографической дефектоскопии, имеют в качестве индикатора электронно-лучевую трубку. Такой индикатор позволяет непосредственно измерить как амплитуду, так и длительность исследуемого сигнала. [27]
Это должно облегчить читателю освоение элементов теории магнитографической дефектоскопии и стимулировать дальнейшее продвижение в изучении физических основ и усовершенствовании этой перспективной области технической физики. [28]
Яи, имеющего важное самостоятельное значение в магнитографической дефектоскопии, мы будем возвращаться и в дальнейшем при исследовании способов магнитной записи и конструкций намагничивающих устройств, где будет показано использование этого поля для линеаризации режима магнитной записи. [29]
В данном изложении, применительно к условиям магнитографической дефектоскопии, упор также делается на качественное описание процесса. [30]