Cтраница 4
Таким образом, несмотря на большое количество новых разработок, достигнутых в магнитографической дефектоскопии в основном благодаря использованию результатов из смежных разделов технической физики, этот способ дефектоскопии требует существенного усовершенствования. [46]
Таким образом, точность обнаружения дефектов сварки, а следовательно, и чувствительность магнитографической дефектоскопии практически определяются размерами и формой усиления сварного шва. Поэтому важное значение имеют исследования связей между формой и размерами усиления сварного шва и контрастностью магнитной записи поля дефекта. Для этого прежде всего следует определить зависимость градиента намагниченности ленты от размеров усиления сварного шва, а затем учесть влияние дефекта сплошности, находящегося в зоне сварного соединения, на изменение этого градиента. Будем первую часть этой задачи решать аналитически, а вторую исследуем экспериментально. [47]
Таким образом, в данной монографии сделан упор только на наиболее важные области применения магнитографической дефектоскопии и на те ее затруднения, которые пока еще остаются неразрешенными. [48]
Рассматриваются вопросы намагничивания магнитных лент с высокочастотным подмагничиванием, моделируется процесс намагничивания в условиях магнитографической дефектоскопии. Показана возможность повышения чувствительности магнитной ленты к слабым полям дефектов. Полученные результаты могут быть использованы при разработке намагничивающих устройств для магнитографической дефектоскопии. [49]
Анализ существующих методов регистрации электрических сигналов показал, что применительно к условиям документирования результатов магнитографической дефектоскопии наибольшего внимания заслуживают открытые способы записи: электромеханический, электротермический и электрохимический. Эти способы позволяют фиксировать на бумажной ленте видимое изображение сигналов по ходу воспроизведения магнитограммы сварного шва без последующей дополнительной обработки носителя записи. [50]
Полученные результаты будут справедливы и для переменной L, которую мы имеем в действительности при магнитографической дефектоскопии, с той лишь разницей, что ток будет изменяться не по экспоненциальному закону. Время же, соответствующее установившемуся току, в том и другом случаях будет одинаковым. [51]