Cтраница 1
Ионные мицеллы являются удобными модельными системами для изучения гидратации заряженных поверхностей благодаря простому составу их поверхности. [1]
Поскольку ионные мицеллы несут на своей поверхности заряды, то характер и концентрация противоионов значительно влияют на ККМ. Кроме того, на ККМ влияют природа и число ионных групп, число и длина углеводородных цепей в молекуле. Так как мицеллы находятся в жидком состоянии и с добавками образуют смешанные мицеллы, ККМ сильно зависит от природы и содержания примесей. [2]
Для ионных мицелл формула (32.8), конечно, слишком груба, но она может быть хорошим приближением для неионных, мицелл с двойным электрическим слоем дипольной природы. [3]
Влияние образования ионных мицелл внутри растворов этих солей на их поверхностное натяжение представляет большой интерес. Хотя ионные мицеллы значительно более растворимы и, вероятно-гораздо менее поверхностно-активны чем отдельные ионы, их присутствие внутри раствора обусловливает гораздо более быстрое понижение поверхностного натяжения до минимума. Причина этого явления неясна, но возможно, что накопление неассоциированных ионов на поверхности облегчается их электростатическим взаимодействием с крупными зарядами мицелл. [4]
![]() |
Зависимость эквивалентной электропроводности растворов бромистых солей четвертичного аммония от концентрации [ 6з ] ( концентрация с выражена в г-экв / л. [5] |
По размерам эти мицеллы больше ионных мицелл, образующихся при критической концентрации, но будучи слабо заряжены, они мало влияют на электропроводность раствора. [6]
![]() |
Эффективные диэлектрические проницаемости. [7] |
Более низкие диэлектрические проницаемости цвиттер-ионных и ионных мицелл в сравнении с диэлектрической Проницаемостью октилглюкозида дают веский ар - гумент в пользу заметного вклада эффекта диэлектрического насыщения. В цвитгер-ионной системе следует, вероятно, различать среднюю плоскость положительных зарядов, включенных в цепь, и среднюю плоскость отрицательных зарядов на концах головок. [8]
![]() |
Зависимость моющей способности от концентрации раствора. [9] |
Уже Хвала170 сообщал, что ионные мицеллы сами по себе не играют роли, или играют незначительную роль в моющем процессе. Для объяснения механизма моющего процесса Хвала вводит понятие критической концентрации, связанное с солюбилизацией моющих веществ ( стр. [10]
Диффузная часть двойного электрического слоя ионных мицелл представляет интерес с точки зрения электростатических явлений, которые здесь не обсуждаются, и взаимодействия мицелл между собой. Последние включают дальнодействуюпше эффекты отталкивания в основном определяются перекрыванием хвостов или областью с низким потенциалом двойного электрического слоя, где предполагается, что теория Гун - Чепмена работает хорошо. [11]
![]() |
Зависимость эквивалентной ( а и удельной ( б электропроводности от концентрации коллоидного ПАВ. [12] |
Это объясняется тем, что образующиеся ионные мицеллы, хотя и переносят ток, но благодаря большому размеру менее ПОДВИЖНЫЕ электрическом поле, чем неагрегированные ионы. Кроме того, сильное электростатическое притяжение со стороны заряженных мицелл связывает часть противоионов на их поверхности. Такая блокировка электрических зарядов уменьшает электропроводность. [13]
![]() |
Зависимость эквивалентной ( а и удельной ( б электропроводности от концентрации коллоидного ПАВ. [14] |
Это объясняется тем, что образующиеся ионные мицеллы, хотя и переносят ток, но благодаря большому размеру менее ПОДВИЖНЫЕ электрическом поле, чем неагрегированные ионы. Кроме того, сильное электростатическое притяжение со стороны заряженных мицелл связывает часть противоионов на их поверхности. Такая блокировка электрических зарядов уменьшает электропроводность. [15]