Режим - обеднение - Большая Энциклопедия Нефти и Газа, статья, страница 1
Если памперсы жмут спереди, значит, кончилось детство. Законы Мерфи (еще...)

Режим - обеднение

Cтраница 1


Режим обеднения соответствует обратной полярности напряжения, при которой основные носители отталкиваются от поверхности. Протяженность этого слоя определяется не деба-евской длиной, а другим характеристическим параметром [ ср.  [1]

Для режима обеднения V30 и удобнее записать (4.14) как o ( inClabl) ( V30 - V3), где V30 (4.15) положительно, а под V3 подразумевается его абсолютная величина.  [2]

В режиме обеднения ( рис. 3.6, б) энергетические зоны вблизи границы раздела полупроводник - диэлектрик изгибаются вверх. Следовательно, концентрация электронов у поверхности полупроводника ниже, чем в объеме, и приповерхностный положительный связанный заряд QB будет обусловлен нескомпенсированными ионами донорной примеси. Для одномерной модели напряженность электрического поля является линейной функцией, а электростатический потенциал и энергия электронов - параболическими функциями расстояния от границы раздела диэлектрик - полупроводник.  [3]

В режиме обеднения заряд в полупроводнике отрицателен, он связан с ионами акцепторов обедненного слоя.  [4]

В режиме обеднения ( рис. 3.15, б) энергетические зоны вблизи границы раздела полупроводник - диэлектрик изгибаются вверх. Следовательно, концентрация электронов у поверхности полупроводника ниже, чем в объеме, и приповерхностный положительно связанный заряд QB будет обусловлен нескомпенсир01ванными ио-нами донорной примеси.  [5]

6 Веерная диаграмма пиков gm, связанных с осцилляциями магнитопроводимо-сти. Пороговое напряжение Ут определяется экстраполяцией пиков для различных уровней Ландау. Из таких диаграмм можно также с большой точностью определять емкость окисла Сок, поскольку при заполнении л-го уровня Ландау nha JD ( E Ns Сок ( У0 - Ут. [6]

В режиме обеднения емкость уменьшается, поскольку индуцированный заряд проникает глубоко в кремний. Вблизи минимума емкости увеличение приповерхностного поля начинает индуцировать электроны в инверсионном слое.  [7]

8 Зависимость изменения поверхностей удельной электрической проводимости полупроводника от внешней разности потенциалов. [8]

В режиме обеднения при высоких внешних напряжениях возможно образование инверсного слоя. Вследствие изменения концентрации свободных носителей заряда в приповерхностном слое полупроводника под действием внешнего перпендикулярного к поверхности электрического поля изменяется его проводимость.  [9]

10 Схема включения ( а и схематическое представление конструкции ( б триода для определения коллекторного тока iK о н. [10]

Коллекторные характеристики, соответствующие режиму обеднения, располагаются ниже нулевой характеристики.  [11]

Такой режим работы МОП-транзистора называют режимом обеднения. МОП-транзисторы с встроенным каналом могут работать как в режиме обогащения, так и в режиме обеднения. Режим работы определяется полярностью напряжения на затворе и типом электропроводности канала. Напряжение на затворе f / 0, при котором прекращается протекание тока стока, носит название порогового напряжения, а напряжение на сток 17Я, начиная с которого прекращается возрастание тока стока, называют напряжением насыщения.  [12]

Ре - стока имеет насыщение меньше в режиме обеднения.  [13]

14 Структура ( а-г и выходные характеристики ( д полевого транзистора с управляющим р-я-переходом и каналом п-типа. [14]

Полевые транзисторы могут работать в обедненном режиме ( режиме обеднения), характеризующемся уменьшением проводимости канала, или в обогащенном режиме ( режиме обогащения, аккумуляции), характеризующемся увеличением проводимости канала.  [15]



Страницы:      1    2    3    4    5