Cтраница 1
Вращение кристалла вокруг оси Z ( см. рис. G) подтвердило наличие именно этих четырех р-р-векторов. [1]
При вращении кристалла вокруг оси 0 гальванометр, подключенный к цилиндру Фарадея, регистрирует дифракционные максимумы. [2]
При вращении кристалла его плоскости будут располагаться под углами, при которых наблюдается взаимное наложение отраженных лучей; оно будет проявляться на фотопластинке в виде последовательности черных точек. [3]
Общий случай поворота кристалла в отражающее положение. [4] |
При вращении кристалла вектор Нр г описывает конус, и при повороте на угол ш пересекает сферу отражения не в ее экваториальной плоскости, а в точке D кругового сечения, расположенного выше экваториальной плоскости. Соответственно дифракционный луч pqr, идущий из центра сферы отражения через точку пересечения D, направлен наклонно к оси вращения. [5]
При вращении кристалла цилиндр из фотопленки движется вдоль его оси. Точки, которые проявились бы в виде одинарной полосы, теперь распределены по всему цилиндру, и боковое смещение пятна можно использовать для определения, от какой из плоскостей ( A, k) произошло отражение. [6]
При вращении кристалла цилиндр из фотопленки движется вдоль его оси. Точки, которые проявились бы в виде одинарной полосы, теперь распределены по всему цилиндру, и боковое, смещение пятка можно использовать для определения, от какой из плоскостей ( A, k) произошло отражение. [7]
При вращении кристалла цилиндр из фотопленки двк -: ется вдоль его оси. Точки, которые проявились бы в виде оди-арной полосы, теперь распределены по всему цилиндру, и боко - DC смещение пятна можно использовать для определения, от ка-ой из плоскостей ( / i, k) произошло отражение. [8]
Общий случай поворота кристалла в отражающее положение. [9] |
При вращении кристалла вектор Нр г описывает конус, н при повороте на угол со пересекает сферу отражения не в ее экваториальной плоскости, а в точке D кругового сечения, расположенного выше экваториальной плоскости. Соответственно дифракционный луч pqr, идущий из центра сферы отражения через точку пересечения D, направлен наклонно к оси вращения. [10]
Если продолжать вращение кристалла, то другие плоскости окажутся в положениях, при которых они дают отражения, и можно зарегистрировать полный набор отражений. [11]
Если заменить полное вращение кристалла колебанием его в пределах некоторого угла ( обычно угол качания составляет 5 - 15), то кристалл будет проходить лишь через некоторые из своих отражающих положений и число пятен на каждой слоевой линии рентгенограммы будет сравнительно невелико. Набор качаний, охватывающих все возможные положения кристалла, равноценен полному вращению. [12]
Схема прецессионного рентгенгониометрического метода. а - движение кристалла. б-движение ширмы. в - движение. [13] |
Угловые скорости вращения кристалла и пленки одинаковы. [14]
Если ось вращения кристалла совпадает с осью обратной решетки, то угол 29 можно выбрать таким, чтобы отражения, соответствующие узлам обратной решетки на этой оси и нечувствительные к изменению угла ф, могли быть измерены в положении, при котором одна из дуг гониометрической головки расположена в экваториальной плоскости. Юстируют кристалл по горизонтальной дуге по равенству счета импульсов в этих положениях. [15]