Вращение - кристалл
Cтраница 3
 |
Схема изменения конвекционных потоков расплава и фронта кристаллизации в зависимости от диаметров кристалла и тигля и критической глубины расплава. [31] |
Существует минимум частоты вращения кристалла, при котором возникает вынужденная конвекция. Повышение температуры в центральной части фронта кристаллизации ведет к подплавлению конуса кристалла с изменением фронта кристаллизации от выпуклой к плоской или вогнутой в соответствии с изменением положения изотерм. [32]
 |
Рентгенограмма вращения. [33] |
Так как при вращении кристалла вокруг этого атомного ряда угол между перпендикулярно падающим на него пучком и самим рядом не меняется, то остаются постоянными и растворы конусов. Пересечение этих конусов с рентгеновской пленкой, свернутой цилиндром вокруг оси вращения, дает семейство / окружностей, на которых располагаются дифракционные пятна. На распрямленной пленке пятна оказываются расположенными на параллельных прямых, называемых слоевыми линиями. Как видно из рис. 63 каждая слоевая линия является следом одного из дифракционных конусов. Растворы дифракционных конусов определяются периодом повторения в атомном ряде, идущем по оси конуса. Таким образом, расстояние между слоевыми линиями определяется периодом идентичности кристалла вдоль оси вращения. Расстояние между слоевыми линиями зависит от длины волны рентгеновского излучения: чем короче длина волны, тем меньше это расстояние. [34]
Антисимметричный тензор / описывает вращение кристалла и не приводит к изменению энергий электронов. Симметричный тензор e j описывает деформацию, индуцированную в кристалле вследствие смещений атомов, и называется тензором деформаций. Такие деформации в кристалле могут приводить к сдвигу энергий электронов. [35]
В рентгенгониометрах Вейсенберга ось вращения кристалла ( направление поступательного движения кассеты) располагается горизонтально. В соответствии с этим на рис. 216, б горизонтально расположена параллельная оси вращения ось Z рентгенограммы. [36]
 |
Происхождение слоевых линий. а - I рода. б - II рода.| Цилиндрические координаты. [37] |
Например, если ось вращения кристалла совпадает с направлением координатной оси [001], а следовательно, с направлением L в обратной решетке, то эти узлы имеют одинаковые координаты Я и К. [38]
Чохральского движение расплава обусловливается вращением кристалла и тигля. Такое течение называется вынужденной конвекцией. [39]
Перестройка генерируемых частот производится вращением кристалла, наложением статического электрического поля, изменением температуры. [40]
 |
Номограмма для перехода от координат на пленке рентгенограммы по Вейс-сенбергу к цилиндрическим координатам в обратном пространстве. [41] |
Постоянная С2 равна отношению угла вращения кристалла со и соответствующего траверса в камере yw и обычно также составляет 2 град / мм. [42]
 |
Схема рентгеновского анализа кристаллов по методу неподвижного монокристалла. [. [43] |
Осуществить это можно, применяя методы вращения кристалла или получая снимки с кристаллов в определенных кристаллографических направлениях. [44]
Эти картины, похожие на рентгенограммы вращения кристалла, широко использовались для целей структурного анализа учеными советской школы [381 ], которые назвали их картинами косых текстур. [45]
Страницы: 1 2 3 4 5