Cтраница 5
![]() |
Схема рентгеносъемки по методу Вайсенберга для случая перпендикулярного падения первичного пучка. [61] |
Сама же цилиндрическая пленка совершает возвратно-поступательные движения вдоль оси вращения кристалла синхронно с его вращением. В этом случае каждой плоскости обратной решетки кристалла на рентгенограмме соответствует искаженная двумерная проекция, однозначно связывающая каждую точку рентгенограммы с соответствующей точкой обратного пространства. Такие рентгенограммы называются рентгеногониометрическими развертками плоскостей ( h h) или вайсенбергограммами. [62]
В условиях больших вертикальных температурных градиентов или больших частот вращения кристалла ламинарный характер конвекции может смениться турбулентным. Турбулентность проявляется прежде всего в виде вихревых токов, наложенных на обычную конвекцию и не искажающих общего поля последней. Режим течения жидкости характеризуется числом Рейнольдса: Re / u / v, где /, и - характерные длина потока и скорость движения среды в рассматриваемом течении; v - кинетический коэффициент вязкости. Если Re меньше некоторого критического числа, режим течения жидкости ламинарный, если ReReKp - режим течения может стать турбулентным. Турбулентный характер конвекции характеризуется низкими значениями чисел Рэлея и Прандля. [63]
В условиях больших вертикальных температурных градиентов или больших частот вращения кристалла ламинарный характер конвекции может смениться турбулентным. Турбулентность проявляется прежде всего в виде вихревых токов, наложенных на обычную конвекцию и не искажающих общего поля последней. Режим течения жидкости характеризуется числом Рейнольдса: Re / u / v, где /, v - характерные длина потока и скорость движения среды в рассматриваемом течении; v - кинетический коэффициент вязкости. Если Re меньше некоторого критического числа, режим течения жидкости ламинарный, если ReReKp - режим течения может стать турбулентным. Турбулентный характер конвекции характеризуется низкими значениями чисел Рэлея и Прандля. [64]
При съемке на движущуюся пленку перемещение кассеты синхронизировано с вращением кристалла. Следовательно, величина смещения пятна определяет угол поворота кристалла из некоторого первоначального положения. [65]